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fischer x-ray xdl 230 菲希爾膜層測(cè)厚儀 由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法，因此無(wú)論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。XDL 230特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
Couloscope CMS2菲希爾庫(kù)倫法涂層測(cè)厚儀 作為測(cè)量鍍層厚度簡(jiǎn)單的方法之一，庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。 尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)， 當(dāng)允許破壞性測(cè)量時(shí)，它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。 應(yīng)用 強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)。
Helmut Fischer銅箔測(cè)厚儀SR-SCOPE RMP30-S 根據(jù)微電阻方法EN14571: 2004，采用微處理器控制的手提式銅箔測(cè)厚儀。德國(guó)FISCHER菲希爾SR-SCOPE RMP30-S銅板測(cè)厚儀-------印制電路板銅厚的測(cè)量，該便攜式設(shè)備采用 4 點(diǎn)電阻法
fischer涂層測(cè)厚儀Dualscope FMP40，fischer涂層測(cè)厚儀，吉馨儀器現(xiàn)貨供應(yīng)，產(chǎn)品質(zhì)量?jī)?yōu)價(jià)格好。
Fischer涂層測(cè)厚儀ISOSCOPE FMP10|菲希爾，菲希爾測(cè)厚儀，吉馨儀器現(xiàn)貨供應(yīng)，產(chǎn)品。
Fischer涂層測(cè)厚儀|ISOSCOPE FMP30，菲希爾涂層測(cè)厚儀，吉馨儀器現(xiàn)貨供應(yīng)，產(chǎn)品質(zhì)量?jī)?yōu)價(jià)格好。
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