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DualScope MP0袖珍式涂鍍層測(cè)厚儀現(xiàn)貨報(bào)價(jià) DualScope MP0儀器內(nèi)置探頭，采用磁感應(yīng)及電渦流方法，可以輕松、快速,無損地測(cè)量涂層厚度。基材透磁率、電導(dǎo)率和幾何形狀（曲率和厚度等）影響相對(duì)較小。
費(fèi)希爾測(cè)厚儀xdl 210 XDL 系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器
德國費(fèi)希爾fischer綠油干膜測(cè)厚儀mpo 應(yīng)用于印制線路板涂層（綠油、濕膜、干膜等銅層涂覆物）之厚度測(cè)量。DELTASCOPE FMP10菲希爾涂層測(cè)厚儀適合 于使用在不需要全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，評(píng)估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度。
德國菲希爾dualscope fmp20涂鍍層測(cè)厚儀使用電磁感應(yīng)和渦流兩種測(cè)試方法，DUALSCOPE FMP20涂鍍層測(cè)厚儀可在鐵磁材料也可以在非鐵材料上測(cè)量，德國FISCHER DUALSCOPE FMP20膜厚儀能自動(dòng)地識(shí)別被測(cè)材料并選擇適合的測(cè)試方法
CMS2 STEP庫侖電解測(cè)厚儀電位差測(cè)試方法 FISCHER COULOSCOPE CMS2電解測(cè)厚儀過電解去除層來測(cè)量涂層厚度。特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。部署CSM2 STEP版本，用于單層標(biāo)準(zhǔn)的STEP測(cè)試測(cè)量，并檢測(cè)潛在的差異，例如在鎳多層質(zhì)量控制中。
菲希爾FISCHER測(cè)厚儀soscope fmp10，fischer測(cè)厚儀，fischer現(xiàn)貨供應(yīng)，fischer代理，菲希爾代理。
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